Real-Time Dynamic IR-drop Prediction for IR ECO
Real-Time Dynamic IR-drop Prediction for IR ECO背景與痛點 (Introduction) 晶片設計的最後一哩路:Sign-off 與 ECO 當晶片設計快要完成時,會進入「簽核 (Sign-off)」階段。這時候必須確保所有指標都合格。 當電流流過電線時,電壓會因為電阻而下降(歐姆定律)。如果電壓降太多(IR-drop),晶片就會跑不動或是算錯 。